Rambler's Top100
Лаборатория тонких физических методов исследования
Научный руководитель - профессор,  доктор технических наук, академик Академии проблем качества РФ
Юрий Александрович БЫКОВ
http://lab.bmstu.ru

МГТУ им.Н.Э.Баумана

Научно-учебный комплекс
Машиностроительные технологии

Кафедра "Материаловедение"
(МТ 8)

 
О ЛАБОРАТОРИИ
Задачи лаборатории
Оборудование лаборатории
Наши координаты
НАШИ РАЗРАБОТКИ
Научные публикации
Методические разработки
Программные разработки
  СТУДЕНТАМ
 
     
   
НАУЧНЫЕ ПУБЛИКАЦИИ
     
 

"Структура и свойства титанового сплава ВТ6ч после линейной сварки трением и последующего отжига"
 Абдуллин М.Р., Быков Ю.А., Жидков А.С., Карпухин С.Д., Сапронов И.Ю., Тепаев С.В.

Исследовано влияние процесса линейной сварки трением и последующего отжига на структуру и распределение микротвёрдости в сварном соединении промышленного титанового сплава Вт6ч. Проведение термической обработки позволило получить равноосную мелкозернистую структуру и выровнять значения твердости. Испытания на растяжение показали, что прочность сварного шва после термической обработки превышает прочность основного металла.  Подробнее...
 
 

     
     
 

"Нанотвердость поверхностного слоя твёрдых тел"
 Ю.А. Быков, С.Д. Карпухин

Представлены результаты расчета нанотвердости по кривым наноиндентирования образцов из различных материалов. Установлено, что нанотвердость поверхности слоя образца существенно превосходит твердость сердцевины. Наблюдается закономерное ее падение по толщине поверхностного слоя от поверхности к сердцевине образца. Обратная зависимость получена для нанопленок, нанесенных на поверхность образца. Подробнее...
 
 

     
     
 

"Способы получения конструкционных наноматериалов"
 Ю.А. Быков, С.Д. Карпухин
 

Приведены признаки, определяющие принадлежность конструкционных материалов к разряду "нано". Рассмотрены технологии и способы получения этих материалов. Показано, что многие из них используются давно и являются традиционными. Проведен анализ различных способов получения наноматериалов и предложены некоторые подходы их совершенствования. Подробнее...
 
 

     
     
 

"Конструкционные наноматериалы"
 Ю.А. Быков

В работе сделана попытка создания целостного системного представления о структуре и особенностях формирования свойств наноматериалов конструкционного назначения. С учетом специфики этих материалов предлагается новая трактовка их структуры на нано- и микроуровнях. По структурному признаку и типу границ выделено 6 групп наноэлементов, определяющих свойства конструкционных наноматериалов. Рассмотрены некоторые технологические возможности их реализации. Предложенные концепции базируются на имеющихся в настоящее время теоретических и экспериментальных результатах. Тем не менее, они во многом носят авторский, субъективный и, следовательно, дискуссионный характер. Подробнее...
 
 

     
 

"О некоторых особенностях структуры и
свойств металлических "тонких" плёнок"

 Ю.А. Быков, С.Д. Карпухин, Е.И. Газукина

В работе представлены результаты исследований структуры и свойств "тонких" плёнок меди, алюминия и никеля. Показано, что структура "тонких" плёнок зависит от их толщины. По электрической проводимости и характеру электрического пробоя они, в отличие от массивных образцов, близки к диэлектрикам. Подробнее...
 
 

   

"Способ определения твёрдости покрытия"
Ю.А. Быков, С.Д. Карпухин, М.К. Бойченко, В.О. Чепцов
Патент на изобретение № 2222801

Изобретение относится к области определения механических свойств материалов, в частности, к измерению твёрдости покрытий различного назначения (износостойких, коррозионностойких, декоративных и др.).

Сущность предлагаемого способа заключается в том, что определяют толщину покрытия, измеряют твёрдость материала основы по известному методу измерения твёрдости путём внедрения четырёхгранной алмазной пирамиды, измеряют твёрдость композиции (основы с покрытием), для чего прикладывают нагрузку, продавливают покрытие, измеряют диагональ отпечатка, определяют твёрдость композиции по известной формуле и далее рассчитывают твёрдость покрытия по формуле... Подробнее...  в начало

   
-->
   
МЕТОДИЧЕСКИЕ РАЗРАБОТКИ
     
 

Для студентов специальностей, связанных с материаловедением, прецизионной оценкой состояния поверхности изделий и нанотехнологиями, для слушателей институтов повышения квалификации кадров по новым направлениям развития техники и технологии.
 
 
 

   

"Растровая электронная микроскопия и
рентгеноспектральный микроанализ"

Учебное пособие

Содержание:

Часть 1. Растровая электронная микроскопия
Принцип работы / устройство / технические возможности / подготовка объектов для исследования требования к ним / области применения.

Часть 2. Рентгеноспектральный микроанализ
Физические основы / подготовка объектов для исследования и особые требования к ним / технические возможности / области применения.

• Архив структур материалов, контрольные вопросы, видеоматериалы.
• Информация о Лаборатории.

Подробнее... в начало
 
 

   

"Сканирующая туннельная микроскопия"
Учебное пособие

Содержание:

Теоретическая часть
Принцип работы / устройство / технические возможности / требования к объектам исследования и методы их подготовки / области использования сканирующей туннельной микроскопии / развитие микроскопии ближнего поля / программное обеспечение / форма сохранения и выдачи информации.

Практическая часть
Порядок анализа трёхмерного изображения структуры поверхности материала (скана)

• Архив сканов, программа обработки сканов, контрольные вопросы, видеоматериалы.
• Информация о Лаборатории.

Подробнее... в начало  

 

   

"Световая микроскопия и количественная обработка
изображений структур материалов"

Учебное пособие

Содержание:

Часть 1. Световая микроскопия
Основы световой микроскопии / принцип работы / технические характеристики / подготовка объектов для исследований / типы световых микроскопов / развитие световой микроскопии.

Часть 2. Количественная обработка изображений структур материалов
Основные алгоритмы / программный комплекс количественной обработки изображений "КолОбок" — возможности и руководство пользователя.

• Архив структур материалов.
• Информация о Лаборатории.

Подробнее... в начало  

 

   

"Булатная сталь"
Реферат

Часть I. Исторические сведения о булате
Литой булат /Сварочный булат, или "дамасская сталь" / "Дамаскированная" сталь / Развитие представлений о строении вещества / Японский булат /Свойства литого булата. Потеря секрета его изготовления

Часть II. Раскрытие тайны литого булата
Сварочный булат на Руси / Попытки получения литого булата в Европе /Открытие тайны булата П.П. Аносовым /Второе рождение булатного клинка

Часть III. Современные представления о технологии производства булатов
Технология выплавки булатных слитков на основе их микроструктуры / Ковка изделия из булатного слитка / Экспериментальные данные по сравнению в лабораторных условиях булата с легированной и инструментальной сталью

• Заключение
• Фотогалерея
• Библиография
• Ссылки на ресурсы Internet

Подробнее... в начало
 
 

   

"Интеллектуальная собственность
в инженерной деятельности"

Учебно-справочное издание. Электронная версия

Содержит:

1. Учебник по дисциплине
"Защита интеллектуальной собственности и патентоведение"

• Часть 1. Творчество - основа создания интеллектуальной собственности.
• Часть 2. Охрана и защита интеллектуальной собственности
• Часть 3. Маркетинг объектов интеллектуальной собственности
• Часть 4. Основные формы коммерческой и некоммерческой реализации объектов интеллектуальной собственности и обмена технологиями.
• Алфавитный указатель.

2. Комплект документов для оформления заявок на объекты интеллектуальной собственности: изобретение, полезная модель, промышленный образец, товарный знак, программа для ЭВМ и базы данных.

3. Примеры оформления заявочных материалов на получение охранных документов.

4. Нормативные документы Российской Федерации в области авторского, смежного и патентного прав.

Подробнее... в начало
 
 

   
   
ПРОГРАММНЫЕ РАЗРАБОТКИ
     

"Колобок"
Программа количественной обработки изображений структур материалов

Назначение: Количественный анализ изображений структур материалов

Возможности:
• анализ изображений структур с любых носителей информации, представленных в оцифрованном виде, а также ввод изображений структур со светового микроскопа с помощью видеокамеры непосредственно в программу;
• графическое редактирование изображений: изменение яркости, контрастности, перевод в негативное и бинарное изображение; морфологические преобразования, рисование линий, заливка площадей, автоматическая корректировка края, ручная обрезка края;
• количественный анализ параметров структуры материала: суммарные и средние значения размера элементов структуры, площади, периметра, гладкости, длины, ширины, форм-фактора, угла наклона, расчёт номера зерна по ГОСТ 5639-82; калибровка изображения, устранение выбранных элементов структуры по любому рассчитываемому параметру, получение количественной информации по выбранной частице, измерения длины линий и угла наклона между линиями непосредственно на изображении;
• распечатка протокола исследования по шаблону, создание шаблона распечатки, автоматическая установка метрической метки в правом углу изображения, сохранение изображений структур на любом этапе анализа, шаблонов, схем действии;
• конвертирование (перевод) результатов расчёта параметров структуры в программу "Excel" в табличном виде для статистической обработки и построения различных графических и аналитических зависимостей.

Скачать демонстрационную версию... в начало
 
 
 

   
 
Rambler's Top100