|
|
|
Растровый электронный микроскоп (РЭМ)
РЭМ Tescan VegaII LMH (Чехия) с энергодисперсионным
анализатором химического состава INCA 350 (Англия) позволяет изучать химический состав областей
материала размером до 1 мкм, начиная от химического элемента натрия до
урана, проводить морфологический анализ структуры. (Увеличение до 50
тыс.).
Вольфрамовые катоды для Camscan
и Tescan
|
|
|
|
Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)
СТМ "СММ-2000" (Россия) позволяет исследовать структуру
материалов с атомным разрешением (до 10 ангстрем), получать реальное трёхмерное
(объёмное) изображение поверхности и проводить её профилометрический анализ
по линии и по площади, трёхмерный прямой и обратный Фурье-анализ, фрактальный
анализ. (Полезное увеличение до 7 млн.).
|
|
|
|
Системы цифровой обработки изображений
"ImageScope" (Россия) и "Колобок"
(Россия, МГТУ им.Н.Э.Баумана) позволяют проводить морфологический анализ (определение размера
элемента изображения, его периметра, площади, формы, проведение статистической
обработки) и Фурье-анализ двумерных (плоскостных) изображений. Системы
обрабатывают изображения с любых носителей информации: бумажных, электронных,
фотографических, пленочных и т.д. В лаборатории они также позволяют анализировать
изображение структуры, полученное с оптического металлографического микроскопа "Leitz. Metallovert" (Германия).
(Увеличение до 2 тыс.).
|
|
|
|
Микротвердомер 
Микротвердомер "Shimadzu HMV 2000" (Япония)
автоматизирован, используется для оценки твердости материалов, отдельных
включений, тонких плёнок, распределения твёрдости по толщине тонких слоёв
на плоских, цилиндрических и шаровых поверхностях. При испытаниях используется
нагрузка 5...2000 г.
|
|
|
|
Данное оборудование позволяет исследовать различные материалы:
стали, сплавы цветных и чёрных металлов, керамики, порошки и порошковые
материалы, защитные, износостойкие и декоративные покрытия, светозащитные
и теплозащитные плёнки на стекле и других материалах, материалы и плёнки
микроэлектроники, инструментальные материалы, композиционные материалы
(волокнистые, слоистые, матричные, системы графит-карбиды, системы графит-графит
и др.), керметы, новые материалы типа фуллеренов, алмазоподобные плёнки,
органические материалы, в том числе ткани, природные и искусственные минералы
и др.
Эти методы исследований могут быть использованы при разработке новых
материалов, изучении структуры, химического состава и свойств известных
материалов, контроле качества технологических процессов при изготовлении
деталей машиностроения и приборостроения, оценке качества поверхности
(в том числе шероховатости поверхности), анализе причин разрушения деталей
и узлов машин (фрактографические исследования). 
|
