Лаборатория тонких физических методов исследования структуры материалов

Основатель Лаборатории – Заслуженный деятель науки РФ,         профессор, доктор технических наук, академик РАЕН

 Юрий Александрович Быков

http://lab.bmstu.ru

МГТУ им.Н.Э.Баумана

 

Научно-учебный комплекс
Машиностроительные технологии

Кафедра "Материаловедение"
(МТ8) 

 
   
 О ЛАБОРАТОРИИ
Задачи лаборатории
Оборудование лаборатории
Контакты

 НАШИ РАЗРАБОТКИ       

Научные публикации

Методические разработки

Программные продукты

  text-decoration СТУДЕНТАМ

  

  Держитесь, Ребята

 
 
      О ЛАБОРАТОРИИ  
 

Авторы приветствуют использование информации с этого сайта.

Просьба: не забывать указывать ссылки.

ЗАДАЧИ ЛАБОРАТОРИИ
     

Научно-исследовательская задача лаборатории:
проведение исследований по выявлению и анализу структуры, фазового и химического состава различных материалов. Для решения научно-исследовательской задачи лаборатория оснащена современным оборудованием с компьютерным управлением и обработкой результатов исследований.
 

   

Учебная задача лаборатории:
формирование у студентов знаний, умений, навыков в области использования современных методов исследования структуры материалов и химического анализа. Для решения этой задачи организованы учебные занятия по дисциплине "Методы исследования материалов": лекции - 24 часа; лабораторные занятия - от 16 до 72 часов. в начало

   
   
ОБОРУДОВАНИЕ ЛАБОРАТОРИИ
     

Растровый электронный микроскоп (РЭМ)РЭМ "Tescan Vega II"
РЭМ Tescan VegaII LMH (Чехия) с энергодисперсионным анализатором химического состава INCA 350 (Англия) позволяет изучать химический состав областей материала размером до 1 мкм, начиная от химического элемента натрия до урана, проводить морфологический анализ структуры. (Увеличение до 50 тыс.).
  Вольфрамовые катоды для Camscan и Tescan

   

Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ)СТМ "СММ-2000Т"
СТМ "СММ-2000" (Россия) позволяет исследовать структуру материалов с атомным разрешением (до 10 ангстрем), получать реальное трёхмерное (объёмное) изображение поверхности и проводить её профилометрический анализ по линии и по площади, трёхмерный прямой и обратный Фурье-анализ, фрактальный анализ. (Полезное увеличение до 7 млн.).
 

   

Системы цифровой обработки изображений"Videolab" и "Колобок"
"ImageScope" (Россия) и "Колобок" (Россия, МГТУ им.Н.Э.Баумана) позволяют проводить морфологический анализ (определение размера элемента изображения, его периметра, площади, формы, проведение статистической обработки) и Фурье-анализ двумерных (плоскостных) изображений. Системы обрабатывают изображения с любых носителей информации: бумажных, электронных, фотографических, пленочных и т.д. В лаборатории они также позволяют анализировать изображение структуры, полученное с оптического металлографического микроскопа "Leitz. Metallovert" (Германия). (Увеличение до 2 тыс.).
 

   

Микротвердомер Shimadzu HMV 2000
Микротвердомер "Shimadzu HMV 2000" (Япония) автоматизирован, используется для оценки твердости материалов, отдельных включений, тонких плёнок, распределения твёрдости по толщине тонких слоёв на плоских, цилиндрических и шаровых поверхностях. При испытаниях используется нагрузка 5...2000 г.
 

   

Данное оборудование позволяет исследовать различные материалы: стали, сплавы цветных и чёрных металлов, керамики, порошки и порошковые материалы, защитные, износостойкие и декоративные покрытия, светозащитные и теплозащитные плёнки на стекле и других материалах, материалы и плёнки микроэлектроники, инструментальные материалы, композиционные материалы (волокнистые, слоистые, матричные, системы графит-карбиды, системы графит-графит и др.), керметы, новые материалы типа фуллеренов, алмазоподобные плёнки, органические материалы, в том числе ткани, природные и искусственные минералы и др.

Эти методы исследований могут быть использованы при разработке новых материалов, изучении структуры, химического состава и свойств известных материалов, контроле качества технологических процессов при изготовлении деталей машиностроения и приборостроения, оценке качества поверхности (в том числе шероховатости поверхности), анализе причин разрушения деталей и узлов машин (фрактографические исследования). в начало

   
   
НАШИ КООРДИНАТЫ
     

Адрес:

 

 

 

 

Расположение:

105005, Москва, 2-я Бауманская ул., д.5,
Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана,
кафедра «Материаловедение» (МТ8),
Лаборатория тонких физических
методов исследования материалов.
Главный учебный корпус, Дворцовая часть, 1 этаж,
ауд.137 ( "Метро"- туннель напротив памятника Н.Э. Бауману)  
   

Тел.

8-499-263-60-90 

E-mail:

lab@bmstu.ru   в начало