1. Теоретическая часть

• 1.1. Введение
  
• 1.2. Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа
  
• 1.3. Устройство сканирующего туннельного микроскопа
  
• 1.4. Технические возможности сканирующего туннельного микроскопа
  
• 1.5. Требования к объектам исследования и методы их подготовки
  
• 1.6. Области использования сканирующей туннельной микроскопии
  
• 1.7. Развитие микроскопии ближнего поля и расширение области её применения
  
• 1.8. Программное обеспечение. Форма сохранения и выдачи информации