1. Теоретическая часть
1.1. Введение
1.2. Принцип работы сканирующего туннельного микроскопа
1.3. Устройство сканирующего туннельного микроскопа
1.4. Технические возможности сканирующего туннельного микроскопа
1.5. Требования к объектам исследования и методы их подготовки
1.6. Области использования сканирующей туннельной микроскопии
1.7. Развитие микроскопии ближнего поля и расширение области её применения
1.8. Программное обеспечение. Форма сохранения и выдачи информации
2. Практическая часть
2.1. Порядок анализа изображения структуры материала (скана)
3. О создателях курса
